Счетчик частиц пыли на поверхности Prody P-III

产品介绍

普洛帝表面尘埃粒子计数器P-III系列通过以下技术实现电子半导体行业表面污染的量化监测和控制：

核心技术原理

界面颗粒再悬浮技术‌：采用先进界面技术，通过物理或气流方式将附着在关键

表面的颗粒重新悬浮，便于后续检测。

高精度光学检测：基于激光光学传感器和光散射原理，实时捕获悬浮粒子的散

射光信号，实现单个粒子尺寸的精确分析。

关键性能指标

分辨率达0.1微米，支持纳米级颗粒检测；

配备静态采样模式，提升测量精度和稳定性；符合ISO-14644-9表面粒子控制标准，

满足半导体制造中对洁净度的严苛要求

行业应用优势

减少50%以上的自净时间及颗粒数，缩短PM周期，提升制造效率；

通过实时监测表面污染，降低因颗粒导致的良率损失和可靠性风险；

适用于晶圆、光学元件、精密电路板等对洁净度敏感的生产环节。

系统集成设计

支持USB数据导出和软件升级，便于与工厂智能管理系统对接；

采用双电池热插拔设计，适应连续生产环境的需求。

该系列设备通过量化表面污染数据，为半导体制造中的过程控制提供标准化依据，从而优化生产良率和产品可靠性。

传感器：第七代双激光窄光检测器，寿命>200000次

产品特点

智能化设计与操作体验

7英寸高分辨率触控屏：支持实时数据可视化与交互操作，简化流程。

双电池热插拔系统‌：支持连续生产场景下的不间断作业，电池更换无需停机。

USB数据接口与软件升级‌：便捷导出检测报告，并可通过固件更新持续优化性能。

提升制造效率

减少50%自净时间‌：通过量化表面污染数据，缩短设备维护周期（PM周期），提升产线吞吐量。

延长MTBC（平均无故障周期）：结合颗粒控制策略，关键设备可靠性提升4倍以上。

覆盖高洁净场景

半导体制造：晶圆表面、机台内腔等关键区域的洁净度验证。

精密光学与电子：液晶面板、光学镜片组件、医疗器械的表面污染控制。

符合国际标准

产品严格遵循ISO-14644-9表面粒子控制规范，为全球半导体厂商提供标准化检测工具。

产品参数

测量粒径:

A 0.3um、2.5um、10um;                                           B 0.3um、(0.5/1.0/2.5/5.0）um、10um;

C0.3um、0.5um、1.0um、2.5um、5.0m、10um;          D 0.5um、1.0um、1.5um、2.0um、2.5um、3.0um;

E0,5um、1.0um、3.0um、5.0um、10.0um、25.0um;     F 0.1μm,0.2μm,0.3μm,0.5μm,1.0μm,5.0μm;